Test Intelligence: Lücken schließen und überflüssige Tests entfernen, um mehr Fehler in weniger Zeit zu finden

Since this post accompanies a talk in German, it is written in German, too.

Koordinaten

• Sprecher: Dr. Elmar Jürgens
• Konferenz: German Testing Day 2021 digital
• Datum: Dienstag, 4. Mai 2021, 10:10 Uhr

Zusammenfassung

Viele Teams müssen immer mehr Funktionalität in immer weniger Zeit testen. Historisch gewachsene Test-Suites stoßen dabei oft an ihre Grenzen, da sie gleichzeitig Zuviel und Zuwenig testen. Zuviel, da sie Tests enthalten, die Kosten erzeugen, aber kaum Mehrwert gegenüber ähnlichen Tests bieten. Zuwenig, da trotzdem wichtige Funktionalität ungetestet bleibt.

Im Vortrag stelle ich Analysetechniken vor, um diese Probleme im eigenen System aufzuzeigen. Historienanalyse des Versionskontrollsystems zeigt, wo in der Vergangenheit im System am meisten Fehler aufgetreten sind. Test-Gap-Analyse deckt auf, welche Code-Änderungen noch ungetestet sind. Und Pareto-Test-Analysen identifizieren die Tests, die das schlechteste Kosten-Nutzen-Verhältnis haben.

Im Vortrag zeige ich zu den Analysen die zugrundeliegenden Forschungsarbeiten und unsere Erfahrungen im Einsatz in der Praxis.

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